Adaptive method for concurrent digital calibration of the offset in comparators in analog-to-digital converters (adcs)
WO2010130866
Art A1
18. November 2010
Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Universidad De Sevilla 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010130866
- Aktenzeichen
- EP10774590
- Anmeldetag
- 13. Mai 2010
- Veröffentlichung
- 18. November 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03M1/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Universidad De Sevilla - Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.
1.355 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.