Adaptive method for concurrent digital calibration of the offset in comparators in analog-to-digital converters (adcs)

WO2010130866 Art A1 18. November 2010

Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Universidad De Sevilla 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010130866
Aktenzeichen
EP10774590
Anmeldetag
13. Mai 2010
Veröffentlichung
18. November 2010
Rechtsraum
WO
IPC
H03M1/10
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Universidad De Sevilla
Land
🇪🇸 Spanien
🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.

1.355 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen