Reception device, test device, reception method, and test method
WO2010131286
Art A1
18. November 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010131286
- Aktenzeichen
- EP09844562
- Anmeldetag
- 11. Mai 2009
- Veröffentlichung
- 18. November 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L7/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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