Method for forming uneven pattern

WO2010134176 Art A1 25. November 2010

Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010134176
Aktenzeichen: EP09844909
Anmeldetag: 20. Mai 2009
Veröffentlichung: 25. November 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/3065G11B5/84

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Toshiba
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

13.649 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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