Sample support member for x-ray microscopes, sample-containing cell, x-ray microscope, and method for observing x-ray microscopic image

WO2010134282 Art A1 25. November 2010

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010134282
Aktenzeichen: EP10777522
Anmeldetag: 10. Mai 2010
Veröffentlichung: 25. November 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G21K7/00G01N23/04G21K5/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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