Selective Self-Aligned Double Patterning Of Regions in an Integrated Circuit Device
WO2010135120
Art A2
25. November 2010
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010135120
- Aktenzeichen
- EP10778122
- Anmeldetag
- 12. Mai 2010
- Veröffentlichung
- 25. November 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027G03F7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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