Reception device, test device, reception method, and test method
WO2010137058
Art A1
2. Dezember 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010137058
- Aktenzeichen
- EP09845132
- Anmeldetag
- 25. Mai 2009
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.