Test result analysis method and test result analysis device, abnormal equipment detection method and abnormal equipment detection device, program for causing computer to execute the test result analysis method and abnormal equipment detection method, and computer-readable recording medium with the program recorded thereon
WO2010137463
Art A1
2. Dezember 2010
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010137463
- Aktenzeichen
- EP10780418
- Anmeldetag
- 13. Mai 2010
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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