Device for measuring deformability and method for measuring deformability
WO2010137470
Art A1
2. Dezember 2010
Anmelder: Konica Minolta Opto, Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010137470
- Aktenzeichen
- EP10780425
- Anmeldetag
- 14. Mai 2010
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N33/49G01N11/04G01N15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Konica Minolta Opto, Inc.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
8.773 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.