Method of forming pattern using actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition, and pattern

WO2010140709 Art A1 9. Dezember 2010

Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010140709
Aktenzeichen
EP10783491
Anmeldetag
3. Juni 2010
Veröffentlichung
9. Dezember 2010
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/30C08F20/28G03F7/004G03F7/038G03F7/039G03F7/32H01L21/027
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
FUJIFILM Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen