Silicon-rich nitride etch stop layer for vapor hf etching in mems device fabrication

WO2010147839 Art A2 23. Dezember 2010

Anmelder: Analog Devices, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010147839
Aktenzeichen
EP10725344
Anmeldetag
10. Juni 2010
Veröffentlichung
23. Dezember 2010
Rechtsraum
WO
IPC
B81C1/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Analog Devices, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇮🇪 Analog Devices

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit irischer Konzerngesellschaft. Analog Devices entwickelt analoge, gemischte und digitale Signalverarbeitungschips für Industrie-, Kommunikations- und Automobilanwendungen.

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