Test method and test system for ac coupling input buffer, and semiconductor integrated circuit

WO2010150322 Art A1 29. Dezember 2010

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010150322
Aktenzeichen: EP09846455
Anmeldetag: 26. Juni 2009
Veröffentlichung: 29. Dezember 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R31/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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