Test apparatus

WO2011001462 Art A1 6. Januar 2011

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2011001462
Aktenzeichen
EP09846758
Anmeldetag
29. Juni 2009
Veröffentlichung
6. Januar 2011
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen