Connector and semiconductor testing device including the connector
WO2011002848
Art A1
6. Januar 2011
Anmelder: Molex Japan Co., Ltd., Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011002848
- Aktenzeichen
- EP10794684
- Anmeldetag
- 30. Juni 2010
- Veröffentlichung
- 6. Januar 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01R13/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Molex Japan Co., Ltd.
Advantest Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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