Electricity Meter Tampering Detection

WO2011004336 Art A1 13. Januar 2011

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011004336
Aktenzeichen: EP10740348
Anmeldetag: 8. Juli 2010
Veröffentlichung: 13. Januar 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R22/06G01R21/133H04B3/54

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.918 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von