Method for improving the reliability of digital integrated circuits under low signal-to-noise ratio conditions
WO2011007028
Art A2
20. Januar 2011
Anmelder: Universitat Politècnica De Catalunya 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011007028
- Aktenzeichen
- EP10799466
- Anmeldetag
- 15. Juli 2010
- Veröffentlichung
- 20. Januar 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F17/50H03K19/003
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Universitat Politècnica De Catalunya
- Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Universitat Politècnica de Catalunya
Die Universitat Politècnica de Catalunya ist eine technische Universität in Barcelona, Spanien, mit breitem ingenieurwissenschaftlichem Fokus. Das Patentportfolio aus der universitären Forschung verteilt sich auf Medizintechnik, Mess- und Prüftechnik, Software sowie Verfahrens- und Werkstofftechnik. Anmeldungen laufen durchgehend seit 2000.
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