Test device and method for analyzing refief
WO2011007383
Art A1
20. Januar 2011
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011007383
- Aktenzeichen
- EP09847283
- Anmeldetag
- 13. Juli 2009
- Veröffentlichung
- 20. Januar 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/56G11C29/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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