Testing device and testing method

WO2011016096 Art A1 10. Februar 2011

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011016096
Aktenzeichen: EP09848029
Anmeldetag: 7. August 2009
Veröffentlichung: 10. Februar 2011
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/677G01R31/28H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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