Differential sr flip-flop and tester using same

WO2011018818 Art A1 17. Februar 2011

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2011018818
Aktenzeichen
EP09848238
Anmeldetag
10. August 2009
Veröffentlichung
17. Februar 2011
Rechtsraum
WO
IPC
H03K3/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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