Defect inspection method and defect inspection apparatus

WO2011019014 Art A1 17. Februar 2011

Anmelder: National University Corporation Okayama University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011019014
Aktenzeichen: EP10808197
Anmeldetag: 9. August 2010
Veröffentlichung: 17. Februar 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/24G02B7/28G02B7/36G03B13/36G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Okayama University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Okayama University

Die National University Corporation Okayama University ist die Trägerschaft der japanischen Okayama-Universität. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik sowie Pharma und organische Chemie, ergänzt um Mess- und Verfahrenstechnik. Anmeldungen decken den Zeitraum 2002 bis 2025 ab.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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