Measurement device and measurement method for flickering perception threshold
WO2011030622
Art A1
17. März 2011
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011030622
- Aktenzeichen
- EP10815219
- Anmeldetag
- 20. Juli 2010
- Veröffentlichung
- 17. März 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B5/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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