Probe circuit, multi-probe circuit, testing apparatus and electronic device
WO2011033564
Art A1
24. März 2011
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011033564
- Aktenzeichen
- EP09849424
- Anmeldetag
- 16. September 2009
- Veröffentlichung
- 24. März 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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