Probe apparatus and testing apparatus
WO2011036718
Art A1
31. März 2011
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011036718
- Aktenzeichen
- EP09849749
- Anmeldetag
- 25. September 2009
- Veröffentlichung
- 31. März 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/302G01R1/06G01R1/067G01R1/073
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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