Apparatus and method for measuring semiconductor carrier lifetime

WO2011043048 Art A1 14. April 2011

Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho, Kobelco Research Institute, Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011043048
Aktenzeichen: EP10821725
Anmeldetag: 1. Oktober 2010
Veröffentlichung: 14. April 2011
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01N21/33G01N21/35

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
Kobelco Research Institute, Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kobe Steel

Japanischer Stahl- und Maschinenbaukonzern mit Sitz in Kobe, tätig in den Bereichen Stahl, Aluminium, Maschinenbau und Schweißtechnik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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