Pattern matching method, pattern matching program, electronic computer, and electronic device testing apparatus

WO2011043293 Art A1 14. April 2011

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011043293
Aktenzeichen: EP10821963
Anmeldetag: 4. Oktober 2010
Veröffentlichung: 14. April 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/956G06T1/00G06T7/60

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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