Multi-value driver circuit and single-end output driver circuit using this, differential output driver circuit and test device
WO2011045830
Art A1
21. April 2011
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011045830
- Aktenzeichen
- EP09850375
- Anmeldetag
- 13. Oktober 2009
- Veröffentlichung
- 21. April 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L25/49H04L25/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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