Differential driver circuit and testing apparatus using same

WO2011045832 Art A1 21. April 2011

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011045832
Aktenzeichen: EP09850376
Anmeldetag: 14. Oktober 2009
Veröffentlichung: 21. April 2011
Rechtsraum: WO
IPC: H03F3/45G01R31/28H03G3/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen