Electron Microscope

WO2011046216 Art A1 21. April 2011

Anmelder: National University Corporation Shizuoka University, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011046216
Aktenzeichen: EP10823484
Anmeldetag: 15. Oktober 2010
Veröffentlichung: 21. April 2011
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/12H01J37/073H01J37/20H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National University Corporation Shizuoka University
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Shizuoka University

Die National University Corporation Shizuoka University ist eine staatliche japanische Universität mit Sitz in der Präfektur Shizuoka, bekannt für Forschung an bildgebenden Halbleitersensoren. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2000 bis 2024 ab.

256 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von