Enhanced control in scan tests of integrated circuits with partitioned scan chains

WO2011050292 Art A2 28. April 2011

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011050292
Aktenzeichen: EP10825764
Anmeldetag: 22. Oktober 2010
Veröffentlichung: 28. April 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/307G01R31/317

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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