A device having a corrosion detection function and a method of manufacturing the same

WO2011064622 Art A1 3. Juni 2011

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011064622
Aktenzeichen: EP09805848
Anmeldetag: 27. November 2009
Veröffentlichung: 3. Juni 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01D5/34G01M11/08G01N17/00G01N17/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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