Tft substrate inspection apparatus and tft substrate inspection method

WO2011070663 Art A1 16. Juni 2011

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011070663
Aktenzeichen: EP09852059
Anmeldetag: 10. Dezember 2009
Veröffentlichung: 16. Juni 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G01N23/225G02F1/13G02F1/1368G09F9/00G09F9/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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