Semiconductor device, measurement apparatus, and measurement method of relative permittivity

WO2011074590 Art A1 23. Juni 2011

Anmelder: Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011074590
Aktenzeichen: EP10837616
Anmeldetag: 8. Dezember 2010
Veröffentlichung: 23. Juni 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/26H01L21/822H01L27/04H01L29/786

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Semiconductor Energy Laboratory

Japanisches Forschungsunternehmen mit Sitz in Atsugi. Semiconductor Energy Laboratory (SEL) forscht an Halbleitertechnologien, Flüssigkristall- und OLED-Displays sowie Dünnschichttransistoren.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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