Techniques for reducing impact of array disturbs in a semiconductor memory device

WO2011084499 Art A2 14. Juli 2011

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2011084499
Aktenzeichen
EP10842546
Anmeldetag
15. Dezember 2010
Veröffentlichung
14. Juli 2011
Rechtsraum
WO
IPC
G11C11/401G11C11/4063G11C11/408G11C11/4076
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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