Method and program for generating test pattern for semiconductor integrated circuit, and computer-readable storage medium

WO2011086884 Art A1 21. Juli 2011

Anmelder: National University Corporation Nara Institute of Science and Technology, Kyushu Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011086884
Aktenzeichen: EP11732759
Anmeldetag: 7. Januar 2011
Veröffentlichung: 21. Juli 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G01R31/28G06F17/50H01L21/822H01L27/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National University Corporation Nara Institute of Science and Technology
Kyushu Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kyushu Institute of Technology

Das Kyushu Institute of Technology ist eine japanische staatliche Technische Universität mit Standorten in Kitakyushu und Iizuka. Das Patentportfolio verteilt sich über Halbleiterbauelemente, Mess- und Prüftechnik sowie Software und Medizintechnik. Die Anmeldungen aus den Jahren 2005 bis 2025 betreffen unter anderem Potentialdifferenzmessgeräte und Farbstoff-Peptid-Komplexe.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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