Worked surface measuring system and method of semicontinuous processing and measurement of worked surface using same

WO2011096090 Art A1 11. August 2011

Anmelder: Nano-Optonics Energy, Inc., National University Corporation Nagoya University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011096090
Aktenzeichen: EP10845222
Anmeldetag: 8. Februar 2010
Veröffentlichung: 11. August 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24B24B13/00B24B49/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Nano-Optonics Energy, Inc.
National University Corporation Nagoya University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Nagoya University

Japanische staatliche Universität mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, unter anderem bekannt für Arbeiten zu LED-Technologie. Trägerin zahlreicher Patente aus Universitätsforschung in Japan.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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