Standard sample for determination of detection sensitivity of elemental analyzer attached to transmission electron microscope

WO2011099434 Art A1 18. August 2011

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011099434
Aktenzeichen: EP11742178
Anmeldetag: 7. Februar 2011
Veröffentlichung: 18. August 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04G01N21/62G01N23/225

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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