Measurement cell and device for measuring the electrical properties of films and coatings at high temperatures
WO2011101585
Art A1
25. August 2011
Anmelder: Institut National Polytechnique de Toulouse, Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011101585
- Aktenzeichen
- EP11712905
- Anmeldetag
- 15. Februar 2011
- Veröffentlichung
- 25. August 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/04G01R27/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Institut National Polytechnique de Toulouse
Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.
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