Light source optimizing method, exposure method, device manufacturing method, program, exposure apparatus, lithography system, light source evaluation method, and light source modulation method
WO2011102109
Art A1
25. August 2011
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011102109
- Aktenzeichen
- EP11744400
- Anmeldetag
- 14. Februar 2011
- Veröffentlichung
- 25. August 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
3.320 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.