Nondestructive inspection device and method
WO2011108709
Art A1
9. September 2011
Anmelder: IHI Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011108709
- Aktenzeichen
- EP11750818
- Anmeldetag
- 4. März 2011
- Veröffentlichung
- 9. September 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/202G01N23/05
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IHI Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
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