Two-dimensional x-ray detector array inspection method

WO2011111590 Art A1 15. September 2011

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011111590
Aktenzeichen: EP11753249
Anmeldetag: 3. März 2011
Veröffentlichung: 15. September 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/24A61B6/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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