Tft array inspection method and tft array inspection device

WO2011114449 Art A1 22. September 2011

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011114449
Aktenzeichen: EP10847864
Anmeldetag: 17. März 2010
Veröffentlichung: 22. September 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/225G01R31/00G02F1/13G09F9/00H01L29/786

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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