Measurement system
WO2011117953
Art A1
29. September 2011
Anmelder: Shimadzu Corporation, National Institute of Radiological Sciences 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011117953
- Aktenzeichen
- EP10848346
- Anmeldetag
- 28. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 29. September 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/64G01N33/49G01N35/08G01T1/161A61B5/157
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Shimadzu Corporation
National Institute of Radiological Sciences - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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