Particulate matter detection method
WO2011118669
Art A1
29. September 2011
Anmelder: NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011118669
- Aktenzeichen
- EP11759474
- Anmeldetag
- 16. März 2011
- Veröffentlichung
- 29. September 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N15/06B01D46/00B01D46/42F01N3/02G01N21/35G02F1/37
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NGK Insulators, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NGK Insulators
Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.
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Vertreten von
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