Fortification of charge-storing material in high-k dielectric environments and resulting apparatuses
WO2011119424
Art A2
29. September 2011
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011119424
- Aktenzeichen
- EP11759948
- Anmeldetag
- 18. März 2011
- Veröffentlichung
- 29. September 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/8247H01L27/115
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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