Fortification of charge-storing material in high-k dielectric environments and resulting apparatuses

WO2011119424 Art A2 29. September 2011

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2011119424
Aktenzeichen
EP11759948
Anmeldetag
18. März 2011
Veröffentlichung
29. September 2011
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/8247H01L27/115
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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