Testing device and testing method

WO2011132352 Art A1 27. Oktober 2011

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011132352
Aktenzeichen: EP11771697
Anmeldetag: 16. Februar 2011
Veröffentlichung: 27. Oktober 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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