Method and device for characterizing or measuring a floating capacitor

WO2011138530 Art A1 10. November 2011

Anmelder: STMicroelectronics Rousset SAS 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011138530
Aktenzeichen: EP11715958
Anmeldetag: 21. März 2011
Veröffentlichung: 10. November 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: STMicroelectronics Rousset SAS
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 STMicroelectronics (Rousset)

Französischer Produktionsstandort des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics in Rousset. Der Standort fertigt integrierte Schaltkreise und Halbleiterbauelemente für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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