Method for producing an anti-forgery label using a randomly distributed pattern of fine particles formed on a variety of substrates, and method for determining the authenticity of the label
WO2011145881
Art A2
24. November 2011
Anmelder: Korea Advanced Institute Of Science And Technology 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011145881
- Aktenzeichen
- EP11783763
- Anmeldetag
- 18. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 24. November 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G09F3/03G09F3/02B82B3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Korea Advanced Institute Of Science And Technology
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
KAIST
Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.
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