Measurement device and measurement method
WO2011151856
Art A1
8. Dezember 2011
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011151856
- Aktenzeichen
- EP10852473
- Anmeldetag
- 31. Mai 2010
- Veröffentlichung
- 8. Dezember 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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