Method for predicting lifetime of element, and circuit board provided with function of predicting lifetime of element

WO2011152151 Art A1 8. Dezember 2011

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2011152151
Aktenzeichen: EP11789560
Anmeldetag: 22. April 2011
Veröffentlichung: 8. Dezember 2011
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28H01L23/34H01L25/04H01L25/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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