Integrated circuit device, calibration module, and method therefor
WO2011154774
Art A1
15. Dezember 2011
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2011154774
- Aktenzeichen
- EP10852811
- Anmeldetag
- 10. Juni 2010
- Veröffentlichung
- 15. Dezember 2011
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03K19/0175H04L25/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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