Vorrichtung zur Ermittlung des Einfallwinkels einer Strahlung auf eine Strahlungseinfallfläche

WO2012000968 Art A1 5. Januar 2012

Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012000968
Aktenzeichen: EP11727983
Anmeldetag: 28. Juni 2011
Veröffentlichung: 5. Januar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01S3/783

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ELMOS Semiconductor AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Elmos Semiconductor

Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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